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掃描電鏡全稱掃描電子顯微鏡，簡(jiǎn)稱SEM，是一種超高速、高分辨、全自動(dòng)、快速成像、場(chǎng)發(fā)射電子顯微分析設(shè)備，是根據(jù)電子光學(xué)原理，用聚焦很細(xì)的電子束照射到要檢測(cè)的樣品表面，電子束與樣品相互作用產(chǎn)生各種信息，使物質(zhì)的細(xì)微結(jié)構(gòu)在非常高的放大倍數(shù)下成像的儀器。SEM加熱樣品臺(tái)可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結(jié)構(gòu)表征。具體功能如下：1、采用四電極反饋控制系統(tǒng)對(duì)加熱區(qū)域的樣品進(jìn)行精準(zhǔn)均勻、安全控溫；2、高精度、高頻反饋控溫模式，具有實(shí)時(shí)溫度控制及精確測(cè)量功能，內(nèi)置絕對(duì)溫標(biāo)，并可軟件自動(dòng)標(biāo)定...

氣體加熱樣品臺(tái)可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結(jié)構(gòu)表征。模塊化設(shè)計(jì)避免了不同實(shí)驗(yàn)之間的交叉污染，樣品制備簡(jiǎn)單易行。主要在多相催化、納米材料合成、能源材料及金屬合金的腐蝕等研究領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。TEM氣體加熱樣品臺(tái)是在原位樣品臺(tái)內(nèi)部構(gòu)建小型的氣氛納米實(shí)驗(yàn)室，在氣體環(huán)境內(nèi)對(duì)材料進(jìn)行原子分辨高時(shí)空精度分析。可以根據(jù)客戶需求結(jié)合MEMS微加工工藝內(nèi)置加熱模塊、光學(xué)模塊和偏壓模塊，通過微納芯片對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行外場(chǎng)控制進(jìn)行熱學(xué)、光學(xué)及電學(xué)性質(zhì)的測(cè)量，并可在物性測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地...

TEM三維重構(gòu)技術(shù)是電子顯微術(shù)、電子衍射與計(jì)算機(jī)圖像處理相結(jié)合而形成的一種有效且高分辨率的三維重構(gòu)方法，用以表征材料三維空間結(jié)構(gòu)。TEM三維重構(gòu)的基本原理基于中心截面定理:任何實(shí)空間的三維物體沿電子束方向投影的傅立葉變換是該物體所對(duì)應(yīng)的傅立葉空間中通過中心且垂直于投影方向的一個(gè)截面，換言之，只要收集樣品在不同方向的投影或同一樣品在不同角度的投影，對(duì)每張投影圖進(jìn)行傅立葉變換，按照投影方向填充到三維傅里葉空間對(duì)應(yīng)的切面，再進(jìn)行反傅立葉變換，就可得到實(shí)空間的三維結(jié)構(gòu)。TEM三維重構(gòu)...

隨著電子顯微鏡在生命科學(xué)、材料科學(xué)、地質(zhì)等諸多研究領(lǐng)域的應(yīng)用，對(duì)樣品在低溫情況下的形貌特征、相變等成為熱點(diǎn)和不可獲取的手段，通過采用液氦和液氮樣品臺(tái)來開展低溫或溫度相關(guān)研究，從而更好地了解您的樣品。冷凍樣品臺(tái)的應(yīng)用也進(jìn)一步拓展了各種檢測(cè)技術(shù)的應(yīng)用范圍，尤其是電子顯微鏡領(lǐng)域，冷凍樣品臺(tái)可以使得不耐輻照、植物樣品等原位觀察和低溫條件下的加工成為可能。SEM冷凍樣品臺(tái)是在標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)的基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)冷凍模塊、PID溫控模塊及冷卻循環(huán)模塊，無需改造電鏡，在掃描電鏡內(nèi)實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品冷凍，大大減緩...

許多催化反應(yīng)因其反應(yīng)過程不穩(wěn)定，催化活性位點(diǎn)會(huì)相應(yīng)地發(fā)生遷移，團(tuán)聚和重構(gòu)等變化。催化劑表面結(jié)構(gòu)、組成及催化活性與反應(yīng)條件密切相關(guān)，因此，在催化反應(yīng)過程中原位識(shí)別活性位點(diǎn)十分關(guān)鍵。原位液相透射電子顯微技術(shù)的發(fā)展，使人們可以對(duì)液相反應(yīng)過程中催化劑的結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變過程進(jìn)行原子尺度的直接觀察，并探索催化劑的轉(zhuǎn)變機(jī)理。圖1.Cu2O在不同輻照時(shí)間下的HRTEM圖及結(jié)構(gòu)變化示意圖近期，廈門大學(xué)廖洪鋼教授和南京大學(xué)董林教授通過利用自主研發(fā)的原位液相TEM光學(xué)樣品桿與原位液體芯片，實(shí)現(xiàn)了TEM原位...